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  • XYG-III全数字光度计
    XYG-III全数字光度计 XYG-III型全数字光度计采用新一代全数字测量技术,不包含任何模拟部分,克服了现有光度计难以避免的零点漂移问题,具有数字系统的强抗*力和高转换精度,同时仪器采用了大动态范围的数字V(λ)传感器,消除了传统光度计的量程切换误差。
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    2025-07-21
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  • XYC-II全数字光通量色度计(B型)
    XYC-II全数字光通量色度计(B型) XYC-II全数字光通量色度计(B型)采用新一代全数字测量技术,不包含任何模拟部分,克服了现有色度计难以避免的零点漂移问题,具有数字系统的强抗*力和高转换精度,同时仪器采用了大动态范围的数字X(λ)Y(λ)Z(λ)传感器,消除了传统色度计的量程切换误差。
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    2025-07-21
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  • RTS-4四探针测试仪
    RTS-4四探针测试仪 RTS-4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
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    2025-07-21
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  • RTS-5双电测四探针测试仪
    RTS-5双电测四探针测试仪 RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响
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    2025-07-21
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  • RTS-8数字式四探针测试仪
    RTS-8数字式四探针测试仪 RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
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