ST-82数字式四探针测试仪
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻；对薄膜等材料的电阻率也可测量

Name: 数字式四探针测试仪ST-82
Brand: 其他品牌
Availability: InStock

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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

ST-82数字式四探针测试仪

特点：

采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻；对薄膜等材料的电阻率也可测量

主要技术性能：

测量范围：
电阻率：10^-4－10³Ω/cm
电阻：10^－6－10⁵Ω
方块电阻：10^－3－10⁴Ω/□
恒流源：10μA-100mA（五档）
精度：≤±0.5%±2个字
分辨力：0.1μV
功耗：12W（约）
外形尺寸：400*120*400mm
净重：15千克

ST-82数字式四探针测试仪

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